原位紅外電化學(xué)ATR可以獲得電極表面吸附物種的取向、排列、覆蓋等狀態(tài)信息，是從分子水平研究電極過程的一種有效手段，其中衰減全反射模式的表面增強(qiáng)光譜，由于表面選律簡(jiǎn)單、表面信號(hào)強(qiáng)、傳質(zhì)容易以及受本體溶液干擾小的優(yōu)點(diǎn)，特別適合實(shí)時(shí)檢測(cè)電極表面動(dòng)態(tài)過程。該原位反應(yīng)系統(tǒng)引入了三電極和氣體接口，可以在施加外偏壓的條件下，向溶液中通入CO2、N2等反應(yīng)氣體，實(shí)現(xiàn)光（電）催化原位紅外光譜表征。在此基礎(chǔ)上，通過在單晶硅表面蒸鍍（或?yàn)R射等）金層，引入表面等離子共振波，實(shí)現(xiàn)表面增強(qiáng)效應(yīng)，增強(qiáng)該原位表征的信號(hào)。
30~80度連續(xù)可調(diào)，以保證不同電催化劑處于最大光通量狀態(tài)；
反應(yīng)池密封性能好， 可通入反應(yīng)氣體；
Si/ZnSe/Ge/ZnS等多種晶體可選，容易拆卸；
PTFE和石英池身， 耐化學(xué)腐蝕；
5口設(shè)計(jì)， 滿足各種應(yīng)用需求；
左表中的晶體適用PH值為常規(guī)環(huán)境，如實(shí)驗(yàn)中加光（電）等條件后需到貨后逐步測(cè)試獲取準(zhǔn)備適用范圍。
具體實(shí)驗(yàn)前請(qǐng)檢查晶體與實(shí)驗(yàn)體系是否發(fā)生化學(xué)反應(yīng)，如發(fā)生反應(yīng)會(huì)造成晶體被腐蝕導(dǎo)致晶體損壞，嚴(yán)禁此條件下使用。
| 名稱 | 參數(shù) |
| 紅外光譜儀(Perkin Elmer Spectrum 3) | 主要指標(biāo):光譜分辨率:優(yōu)于0.4cm-1 |
| 信噪比:優(yōu)于50000:1(1分鐘測(cè)試，4cm -1分辨率，峰-峰值) | |
| 優(yōu)于15000:1 (5秒鐘測(cè)試，4cm-1分辨率，峰-峰值) | |
| 快速掃描: 達(dá)100張/秒，原位反應(yīng)、快速動(dòng)力學(xué)中獲得更多細(xì)節(jié) | |
| 檢測(cè)器: DTGS和MCT檢測(cè)器 | |
| 備注：也可適配賽默飛、布魯克、港東等國內(nèi)外各大品牌主機(jī) |
批量采購，定制需求，技術(shù)咨詢等，請(qǐng)留下您的需求和聯(lián)系方式，我們會(huì)盡快與您取得聯(lián)系
焦耳加熱裝置、固定床反應(yīng)器、原位表征裝置、實(shí)驗(yàn)室電池解決方案供應(yīng)商
國家高新技術(shù)企業(yè) / 安徽省專精特新中小企業(yè)
0551-62888163
合肥原位科技有限公司版權(quán)所有 免責(zé)聲明 皖I(lǐng)CP備19004885號(hào)-1
